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Sensorik und Aktuatorik
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R. Thewes, W. Weber, and K. Goser
pp. 85-88, 1993. Conference Location : Grenoble
W. Weber, M. Brox, A. v. Schwerin, and R. Thewes
Volume: 22 (1-4) pp. 253-260, 1993. Amsterdam, The Netherlands, The Netherlands
R. Thewes, M. Brox, G. Tempel, W. Weber, and K. Goser
R. Thewes, M. Brox, G. Tempel, W. Weber, and K. Goser. Hot-carrier degradation of p-MOSFET's in analog operation: the relevance of the channel-length-independent drain conductance degradation. Tech. Digest International Electron Device Meeting (IEDM) 1992. San Francisco, CA
Volume: 13 pp. 590-592, 1992.
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